SEM, EM8000F Std FEG SEM, Risoluzioni 1.5nm@15KV (SE)
EM8000 è la prima microscopia elettronica a scansione di Schottky in Cina, lanciata nel 2014, che ha ricevuto numerosi commenti positivi dal mercato, soprattutto da parte dei clienti dell'Università.
Con il sistema operativo Muti-language, pannello di controllo remoto integrato con trackball, piano di assistenza post-vendita completo con supporto tecnico permanente, gode della buona reputazione tra i clienti.
Come KYKY di oltre 60 anni di esperienza nella produzione SEM, l'intera serie EM supporta il vecchio sistema rinnovato e personalizzato come SEM +, come il rimodellamento della litografia a fascio di elettroni, il rimodellamento del fascio di ioni di messa a fuoco, integrato con STM, AFM, stadio di riscaldamento; Manipolatore micro-nano, ecc. Il sistema ha anche un'interfaccia multipla in camera per collegare la maggior parte del rilevatore di analisi sul mercato.
EM8000 è la prima microscopia elettronica a scansione di Schottky in Cina, lanciata nel 2014, che ha ricevuto numerosi commenti positivi dal mercato, soprattutto da parte dei clienti dell'Università.
vantaggi:
◆ Pistola Schottkyelectron, alta luminosità, buona monocromaticità, spot a raggio ridotto, lunga durata
◆ Corrente del fascio stabile, diffusione a bassa energia
◆ Basso vuoto disponibile
◆ Interfaccia operativa facile, comoda e amichevole
◆ Due anni senza registrazione
specifiche tecniche:
| Articolo | KYKY-EM8000F Std FEG SEM |
| Risoluzione | 1.5nm@15KV (SE) 3nm @ 20KV (BSE) |
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| Ingrandimento | 15X ~ 800000X |
| Pistola elettronica | Pistola elettronica a emissione di campo di Schottky |
| Accelerazione del Voatage | 0 ~ 30kV |
| Sistema di aspirazione | Pompa ionica, pompa turbo molecolare, pompa meccanica |
| Rivelatore | ◆ Rilevatore di elettrodi secondari ad alto vuoto (con protezione rilevatore) |
| ◆ Rilevatore di scattering posteriore a semiconduzione a quattro segmenti |
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| Campione di campioni | Stadio motorizzato a cinque assi eucentrico |
| Viaggio | X | 0 ~ 80mm |
| Gamma | Y | 0 ~ 50mm |
| Z | 0 ~ 30mm |
| R | 360 ° |
| T | -5 ° ~ 70 ° |
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| Diametro massimo del campione | 175 millimetri |
| Accessori | X-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, Rivestimento, Oversize Stage, ecc. |
| Modifica | EBL; STM; AFM; Stadio di riscaldamento; Fase criogenica; Stadio di trazione; Micro-nano manipolatore; SEM + Rivestimento macchina; SEM + Laser |
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